4、符合DIN ISO 3497和ASTM B568標準。
X射線鍍層測厚儀用途 :
XDLM-PCB測量印制電路板上鍍層厚度及成分分析的入門級、耐用型測量儀。用于測量和分析印刷電路板上的涂層厚度和成分的專用X射線熒光測量儀器。FISCHERSCOPE X-RAY XDLM-PCB儀器是專門用于測量和分析印刷電路板上的涂層厚度和成分的堅固耐用的入門級儀器。
典型應用領域:
? 尺寸*大為610 x 610毫米(24 x 24英寸)的印刷電路板上的小部件和結構的測量
? 電子和半導體行業中功能涂層的測量
? XDLM-PCB 210和220:自動測量,例如在質量控制中
? 確定電鍍液的成分
通過使用微焦點X射線源和比例計數管可以實現高計數率,從而可以進行精確的測量。出色的準確性和長期穩定性是所有FISCHERSCOPE X-RAY系統的特征。大大減少了重新校準的必要性,從而節省了時間和精力。
FISCHER的基本參數方法無需進行校準即可分析固體和液體樣品以及涂層系統。為了在大型印刷電路板和多面板上進行測量,XDLM-PCB 200可以配備樣品臺擴展架,以擴大可用的樣品放置區域。XDLM-PCB 220具有可電動改變的孔徑和主濾波器,可為每次測量創建理想的激勵條件。這使得該儀器用途甚為廣泛。
兩種儀器均具有簡單的樣品定位功能:
?XDLM-PCB 200:借助集成的激光指示器,可以大致定位PCB。 然后將樣品支架像抽屜一樣推入儀器中。
?XDLM-PCB 210和220:該儀器配備具有彈出功能的高精度可編程XY工作臺。 激光指示器用作定位輔助工具,并支持快速對準要測量的樣品。