產品描述
FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-μ帶有多多毛細孔X射線聚焦裝置的X射線熒 光測量儀，用于測量非常小的組件和結構
儀器介紹：
FISCHERSCOPE X-RAY XDV-μ測量系統擁有先進的多毛細孔
XDV-μ測量空間寬大，樣品放置便捷，特別適合測量平面和
操作很人性化，測量門帶有大觀察窗，并能大角度開啟，儀器
特征：? 帶有鈹窗口和鎢鈀的微聚焦X射線管，可選鉬管。*高工作條件：50kV，50W ? X射線探測器采用珀爾帖致冷的硅漂移探測器 ? 多毛細孔X射線聚焦裝置，測量點約20-40μm FWHM （半高寬） ? 4個可切換基本濾片 ? 帶彈出功能的可編程XY平臺 ? 視頻攝像頭可用來實時查看測量位置，十字線上有經過校 準的刻度標尺，而測量點實際大小也在圖像中顯示。
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應用實例：PCB領域的一個典型鍍層結構是Au/Pd/Ni/Cu/PCB，而且測量點的寬度通常都小于100 μm，Au層和Pd層的厚度都 在10到100 nm之間。使用半寬高為20μm的XDV-μ進行測 量，Au層和Pd層的重復精度分別可達到~0.1 nm和~0.5 nm。
典型應用領域：? 測量PCB、引線框架和晶片上的鍍層系統? 測量微小工件和線材上的鍍層系統 ? 分析微小工件的材料成分
測量PCBs：Au / Ni / Cu / PCB
SMD元器件：鉛含量檢測
線材：Sn/Cu
引線框架: Au/Pd/Ni/CuFe
晶片：Au/Pd/Ni/Cu/Si-晶片 |
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