產品描述

FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD型儀器配備了感應區域大而分辨率良好的硅漂移接收器，這樣在使用大準直器的情況下，可以達到很高的計數率，從而實現良好的重復精度和很低的檢測下限。XDV-SDD非常適合痕量分析中非常薄鍍層的測量。由于提高了低能輻射的靈敏度，同時可測元素的范圍也擴大到更低原子序數的元素，這樣就可以可靠測量空氣中的磷或鋁。為了使每次測量都能在*佳激勵條件下進行，XDV-SDD配備了可切換的準直器和基本濾片。

        XDV-SDD測量空間寬大，樣品放置便捷，可以放置平整的樣品，也可以放置形狀復雜的大樣品。連續測試或鍍層厚度和元素分布的測量都可以方便地用快速可編程XY-工作臺完成。操作很人性化，測量門開啟方便，儀器前部控制面板具備多種功能，日常使用輕松便捷。測量位置的精確設定可以很方便地通過高分辨率和高放大倍數的攝像頭完成，攝像頭可以在操作時精確顯示測量位置。激光點作為輔助定位裝置進一步方便了樣品的快速定位。良好的性能和通用的設計使得XDV-SDD是研發、過程控制和實驗室的理想選擇。同時基于其健壯設計和用戶友好，它也是品質保證和生產監控*不可少的設備。

主要特征

    ?帶有鈹窗口和鎢鈀的微聚焦X射線管。
    ?*高工作條件： 50 kV, 50W
    ?X射線探測器采用珀爾帖致冷的硅漂移探測器
    ?準直器：4個，可自動切換，從直徑0.1mm到3mm
    ?基本濾片：6個，可自動切換
    ?帶彈出功能的可編程XY平臺
    ?視頻攝像頭可用來實時查看測量位置，十字線上有經過校準的刻度標設計獲得許可，

    ?防護全面，符合德國X射線條例第4章第3節

典型應用領域

? 測量超薄鍍層，例如電子和半導體行業 ? 痕量分析，例如按照RoHS，玩具和包材指令檢測有害物質 ? 高精度黃金和貴金屬分析 ? 光伏行業 ? 測量NiP層的厚度和成分

應用實例 

法律條例嚴格限制多種有害物質的含量，例如電子元件，玩具或包裝材料。XDV-SDD使得快速方便地檢測是否符合這些限制成為可能。例如，測量檢出限僅僅幾個ppm的特別重要的化學元素Pb、Hg和Cd等。