產品描述

能夠為以下光學零件的提供柵格方向和徑向的三維測量與分析： ?   球面 ?   非球面 ?   衍射面 ?   自由曲面 PGI Freeform可與新的用于定義自由曲面的方程式相兼容，測量多種多樣的自由曲面, 比如： ?   雙環曲面 ?   雙圓錐面 ?   變形非球面 ?   橢球面 ?   NURBS曲面 ?   Zernike曲面 ?   點云曲面

用于表面粗糙度和形狀測量的三維自由曲面光學輪廓測量儀：

隨著市場上自由曲面光學元件的興起和對日益復雜測量解決方案需求的不斷增長，英國泰勒霍普森公司研發生產出了可滿足自由曲面測量要求的多用途、高分辨率接觸式測量系統——Form Talysurf® PGI Freeform。Form Talysurf ®PGI Freeform自由曲面測量系統使得制造商能夠精確測量其光學元件并與設計資料進行比較。該系統采用柵式/徑向掃描方式進行測量，可以提供球面元件、非球面元件、衍射元件及自由曲面等面的三維光柵 及徑向分析。  

泰勒?霍普森 的 PGI Freeform（相位光柵干涉）是一款多功能、高分辨率的三維自由曲面輪廓測量儀，用于高精度的自由曲面光學測量。它可以對自由曲面光學器件進行表面粗糙度和形狀分析。Form Talysurf PGI Freeform自由曲面測量系統可以測量環面、雙錐面、合成非球面、橢球面、NURBS樣條曲面、非球面柱面 、點云以及Zernike定義的曲面等等。 Form Talysurf ®PGI Freeform自由曲面測量系統基于幾十年的測量經驗的積淀，精密生產經驗以及有限元優化設計，提供了低噪聲和近乎完美的機械運動軸。測針測量范圍可達到28mm，分辨率可達0.8nm，測量角度到達50°，面型誤差小于150nm。

靈活多樣、高分辨率自由曲面測量系統

——全新的PGI Freeform是一款靈活多樣、高分辨率的光學測量系統，適用于高精密光學零件的自由曲面的測量。

測量的整體性與重復能力

泰勒?霍普森PGI Freeform數十年的測量經驗積累、精密加工專業知識與有限元分析(FEA)優化設計相結合,可加工出低噪音、近乎完美的機械軸。全新的軟件操作界面，設置簡單，可進行自由曲面的高精度分析。功能強大的PGI Freeform使其稱為光學零件分析測量的*選。